广州市金都恩科精密仪器有限公司是韩国K-MAC株式会社在中国区域的总代理，公司一直致力于薄膜厚度测量和分析技术。

          目前合作商有：京东方，三星，LG,天马，德国默克/Merck,华星光电，还有国内的新兴的新材料研究和开发企业等。

          K-MAC薄膜厚度测量仪

          Spectra Thick(简称ST)

      厚度测量仪适用于研发半导体, FPD(LCD/PDP,纳米技术,电子材料,特殊薄膜等的薄膜测量。例如可判断半导体工程中绝缘膜,电极,保护膜等许多膜的运转正常指数。薄膜测量系统是用来监控工序并通过测量薄膜的厚度决定产品的质量。

      测量薄膜厚度有很多种方法。在很多种方法中利用机械的探针方法,利用F显微镜的方法,光学方法是这三种方法中我们最经常使用的方法。

          ST,K-MAC的薄膜厚度测量系统采用的是光学技术方法。在薄膜的表面利用反射光和在下部的界面反射的光之间的干涉现象或利用光的相位差来决定薄膜的特性。因此利用此方法可以测量薄膜的厚度以及照度,光学常数。特别是透明薄膜,能维持光的干涉性,可测量所有种类的试剂、就算是多层薄膜,也可以根据数学计算测量各个薄膜的厚度。并且可不损害样品的表面,使用简便,可以快速测量A到数十μm水准的厚度。